JJF(电子)0072-2021非接触涡流法半导体晶片电阻率测试系统校准规范

2025-06-28

本本规范适用于测试范围在 01Ω·cm~2000Ω·cm(厚度 100 μm~1000μm)的非接触涡流法半导体晶片电阻率测试系统的校准。电阻率测试系统主要是利用无接触电涡流探头系统,检测由被测半导体晶片感应的涡流,辅以控制器进行信号处理完成对半导体晶片电阻率的无损测量。它主要由涡流探头、高频线圈和控制器等部分组成。

标准号:JJF(电子)0072-2021

标准名称:非接触涡流法半导体晶片电阻率测试系统校准规范

标准类型:国家标准

标准状态:现行

发布日期:2021-12-02

实施日期:2022-04-01

发布单位:工业和信息化部

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