GB/T41033-2021CMOS集成电路抗辐射加固设计要求

本文件规定了CMOS集成电路抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计的流程、设计要求、建模仿真、验证试验要求。本文件适用于基于体硅/SOI CMOS工艺的数字集成电路、模拟集成电路和数模混合集成电路的抗辐射（总剂量、单粒子）加固设计。

标准号：GB/T 41033-2021

标准名称：CMOS集成电路抗辐射加固设计要求

英文名称：Design requirements of radiation hardening for CMOS IC

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2021-12-31

实施日期：2022-07-01

中国标准分类号（CCS）：航空、航天>>航空器与航天器零部件>>V29航天用液压元件与附件

国际标准分类号（ICS）：航空器和航天器工程>>49035航空航天用零部件

起草单位：中国航天科技集团有限公司第九研究院第七七一研究所

归口单位：全国宇航技术及其应用标准化技术委员会(SAC/TC 425)

发布单位：国家市场监督管理总局