GB/T34002-2017微束分析透射电子显微术用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

本标准规定了透射电镜（TEM）在很大放大倍率范围内所记录的图像的校准方法。用于校准的标准物质具有周期性结构，例如衍射光栅复型、半导体的超点阵结构或 X 射线分析的分光晶体以及碳、金或硅的晶体晶格像。 本标准适用于记录在照相胶片上、或成像板上、或数字相机内置传感

标准号：GB/T 34002-2017

标准名称：微束分析 透射电子显微术 用周期结构标准物质校准图像放大倍率的方法

英文名称：Microbeam analysis—Analytical transmission electron microscopy—Methods for calibrating image magnification by using reference materials having periodic structures

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2017-07-12

实施日期：2018-06-01

中国标准分类号（CCS）：化工>>化工综合>>G04基础标准与通用方法

国际标准分类号（ICS）：化工技术>>分析化学>>7104040化学分析

起草单位：北京科技大学

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

发布单位：国家质量监督检验检疫