GB/T28634-2012微束分析电子探针显微分析块状试样波谱法定量点分析

本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜(SEM)的波谱仪(WDS),通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。内容包括:———定量分析原理;———本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围;———仪器的一般要求;———有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。本标准适用于电子束垂直入射,要求定量分析的块状试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。

标准号：GB/T 28634-2012

标准名称：微束分析 电子探针显微分析 块状试样波谱法定量点分析

英文名称：Microbeam analysis—Electron probe microanalysis—Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2012-07-31

实施日期：2013-02-01

中国标准分类号（CCS）：仪器、仪表>>物质成分分析仪器与环境监测仪器>>N53电化学、热化学、光学式分析仪器

国际标准分类号（ICS）：化工技术>>分析化学>>7104099有关化学分析方

起草单位：中国科学院上海硅酸盐研究所

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC 38)

发布单位：国家质量监督检验检疫