GB/T22586-2008高温超导薄膜微波表面电阻测试

本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法。测试目标是在谐振频率下Rs随温度的变化。本标准适用于表面电阻的测试范围如下：———频率：８GHz＜f＜３０GHz———测试分辨率：001mΩ（f＝10GHz）

标准号：GB/T 22586-2008

标准名称：高温超导薄膜微波表面电阻测试

英文名称：Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：2008-12-15

实施日期：2009-05-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法

国际标准分类号（ICS）：冶金>>金属材料试验>>7704099金属材料的其他试验方法

替代以下标准：被GB/T 22586-2018代替

起草单位：电子科技大学、清华大学、南京大学等

归口单位：全国超导标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫