GB/T19403.1-2003半导体器件集成电路第11部分：第1篇：半导体集成电路内部目检（不包括混合电路）

本部分为GB/T19403的一部分，等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1：1992《半导体器件集成电路第11部分：第1节：半导体集成电路内部目检》。

标准号：GB/T 194031-2003

标准名称：半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）

英文名称：Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits)

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2003-11-24

实施日期：2004-08-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

起草单位：信息产业部第四研究所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫