GB/T17723-1999黄金制品镀层成分的X射线能谱测量方法

本标准规定了应用扫描电镜X射线能谱仪（包括装有X射线能谱仪的电子探针仪）对镀金制品表面金及金合金单层均匀镀层成分的非破坏性分析测量方法。本标准适用于表面镀金及金合金，其镀层厚度为02μm以上，3μm以下范围内的成分测量(不包括基体和金镀层材料相近的镀层成分的测量)。

标准号：GB/T 17723-1999

标准名称：黄金制品镀层成分的 X 射线能谱测量方法

英文名称：Surface composition analysis method of gold-plated products by EDX

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：1999-04-01

实施日期：1999-01-02

中国标准分类号（CCS）：仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器

国际标准分类号（ICS）：成像技术>>37020光学设备

替代以下标准：被GB/T 17362-2008代替

起草单位：北京有色金属研究总院

归口单位：全国微束分析标准化技术委员会

发布单位：国家质量技术监督局