GB/T17473.5-2008微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定

2025-06-29

本标准是对GB/T17473—1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法》(所有部分)的整合修订,分为7个部分,本部分为GB/T17473—2008的第5部分。 本标准规定了微电子技术用贵金属浆料中 粘度的测定方法。 本部分代替GB/T17473.5—1998《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定》。本部分与GB/T17473.5—1998相比,主要有如下变化:———将原标准名称修改为:微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定;———将原标准中范围去除“非贵金属电子浆料粘度测定也可参照本标准执行”

标准号:GB/T 174735-2008

标准名称:微电子技术用贵金属浆料测试方法 粘度测定

英文名称:Test methods of pastes used for microelectronics - Determination of viscosity

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:2008-03-31

实施日期:2008-09-01

中国标准分类号(CCS):冶金>>有色金属及其合金产品>>H68贵金属及其合金

国际标准分类号(ICS):冶金>>有色金属>>7712099其他有色金属及其合金

替代以下标准:替代GB/T 174735-1998

起草单位:贵研铂业股份有限公司

归口单位:全国有色金属标准化技术委员会

发布单位:国家质量监督检验检疫

GB/T17473.6-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法分辨率测定
GB/T17473.5-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法粘度测定
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