GB/T17473.4-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法附着力测定

本标准规定了贵金属浆料附着力的测试方法。本标准适用于贵金属导体浆料附着力的测定。非贵金属浆料亦可参照使用。

标准号：GB/T 174734-1998

标准名称：厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法 附着力测定

英文名称：Test methods of precious metal pastes used for thick film microelectronics--Determination of adhesion

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：1998-08-19

实施日期：1999-03-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H22金属力学性能试验方法

国际标准分类号（ICS）：冶金>>金属材料试验>>7704001金属材料试验综合

替代以下标准：被GB/T 174734-2008代替

起草单位：昆明贵金属研究所

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

发布单位：国家质量技术监督局