GB/T17473.2-2008微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定

2025-06-29

本部分规定了微电子技术用贵金属浆料细度的刮板测定方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料细度测定。

标准号:GB/T 174732-2008

标准名称:微电子技术用贵金属浆料测试方法 细度测定

英文名称:Test methods of presious metals pastes used for microelectronics - Determination of fineness

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:2008-03-31

实施日期:2008-09-01

中国标准分类号(CCS):冶金>>有色金属及其合金产品>>H68贵金属及其合金

国际标准分类号(ICS):冶金>>有色金属>>7712099其他有色金属及其合金

替代以下标准:替代GB/T 174732-1998

起草单位:贵研铂业股份有限公司

归口单位:全国有色金属标准化技术委员会

发布单位:国家质量监督检验检疫

GB/T17473.3-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定
GB/T17473.2-1998厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法细度测定
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