GB/T17473.1-2008微电子技术用贵金属浆料测试方法固体含量测定

本部分规定了微电子技术用贵金属浆料中固体含量的测试方法。本部分适用于各种烧结型和固化型微电子技术用贵金属浆料固体含量的测定。 本部分代替ＧＢ／Ｔ１７４７３．１—１９９８《厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定》。本部分与ＧＢ／Ｔ１７４７３．１—１９９８相比，主要有如下变动：———将原标准名称修改为微电子技术用贵金属浆料测试方法　固体含量测定；———删除了引用文件ＧＢ／Ｔ２４２１—１９８９；———本部分增加了聚合物低温固化型浆料的固体含量测定内容；———对于聚合物低温固化浆料，根据浆料使用温度的不同来确定检测固体含量的温度；———浆料平行取样由两份增加为三份；———删除了中温烧成浆料的内容，将高温烧成浆料改为烧结型浆料；———试料相互之间测试值之差不大于平均值的１％测定结果有效。

标准号：GB/T 174731-2008

标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 固体含量测定

英文名称：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics-Determination of solids content

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2008-03-31

实施日期：2008-09-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>有色金属及其合金产品>>H68贵金属及其合金

国际标准分类号（ICS）：冶金>>有色金属>>7712099其他有色金属及其合金

替代以下标准：替代GB/T 174731-1998

起草单位：贵研铂业股份有限公司

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫