GB/T17444-2013红外焦平面阵列参数测试方法

本标准对红外焦平面阵列特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了红外焦平面阵列特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵红外焦平面阵列。

标准号：GB/T 17444-2013

标准名称：红外焦平面阵列参数测试方法

英文名称：Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2013-11-12

实施日期：2014-04-15

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L52红外器件

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31260光电子学、激光设备

替代以下标准：替代GB/T 17444-1998

起草单位：中国科学院上海技术物理研究所

归口单位：工业和信息化部电子工业标准化研究所

发布单位：国家质量监督检验检疫