GB/T17444-1998红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

本标准所指的焦平面，是敏感红外辐照的光敏阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。

标准号：GB/T 17444-1998

标准名称：红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

英文名称：The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：1998-07-03

实施日期：1999-05-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L52红外器件

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31260光电子学、激光设备

替代以下标准：被GB/T 17444-2013代替

起草单位：中国科学院上海技术物理研究所

归口单位：信息产业部（电子）

发布单位：国家质量技术监督局