GB/T16822-1997介电晶体介电性能的试验方法

2025-06-29

本标准规定了介电晶体的低频(10MHz以下)介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。

标准号:GB/T 16822-1997

标准名称:介电晶体介电性能的试验方法

英文名称:Test method for dielectric properties of dielectric crystal

标准类型:国家标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:1997-05-28

实施日期:1998-02-01

中国标准分类号(CCS):电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料

国际标准分类号(ICS):电子学>>31020电子元件综合

起草单位:中国科学院物理研究所

归口单位:信息产业部(电子)

发布单位:国家技术监督局

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