GB/T1550-1997非本征半导体材料导电类型测试方法

本标准规定了非本征半导体材料导电类型的测定方法。本标准适用于非本征半导体材料导电类型的测定，其中较详细地规定了锗和硅导电类型的测试方法。本标准方法能保证对均匀的同一导电类型的材料测得的可靠结果，对于非均匀试样，可在其表面上测出不同导电类型区域。本标准方法不适用于分层结构试样，如外延片的导电类型的测定。

标准号：GB/T 1550-1997

标准名称：非本征半导体材料导电类型测试方法

英文名称：STANDARD methods for measuring conductivity type of extrinsic semiconducting materials

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：1997-06-03

实施日期：1997-01-02

中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法

国际标准分类号（ICS）：冶金>>金属材料试验>>7704001金属材料试验综合

替代以下标准：GB 1550-1979 GB 5256-1985;被GB/T 1550-2018代替

起草单位：峨嵋半导体材料厂

归口单位：全国半导体材料和设备标准化技术委员会

发布单位：国家技术监督局