GB/T14264-2009半导体材料术语
本标准规定了半导体材料及其生长工艺、加工、晶体缺陷和表面沾污等方面的主要术语和定义。本标准适用于元素和化合物半导体材料。
标准号：GB/T 14264-2009
标准名称：半导体材料术语
英文名称：Semiconductor materials—Terms and definitions
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：现行
发布日期：2009-10-30
实施日期：2010-06-01
中国标准分类号（CCS）：冶金>>半金属与半导体材料>>H80半金属与半导体材料综合
国际标准分类号（ICS）：电气工程>>29045半导体材料
替代以下标准：替代GB/T 14264-1993
起草单位：洛阳单晶硅有限责任公司、峨眉半导体材料厂、宁波立立电子股份有限公司等
归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
发布单位：国家质量监督检验检疫
GB/T14269-2008羊毛试验取样方法
本标准代替ＧＢ／Ｔ１４２６９—１９９３《羊毛试验取样方法》。本标准规定了从含脂毛和洗净毛中抽取批样、实验室样品的方法。本标准适用于绵羊毛。
GB/T14269-1993羊毛试验取样方法
本标准规定了原毛和洗净毛的批样、试验室样品、试验样品和试验试样的抽取方法。本标准适用于国产绵羊毛。 标准号：GB/T 14269-1993 标准名称：羊毛试验取样方法 英文名称：The sa
GB/T14268-2008国家基本比例尺地形图更新规范
本标准规定了１∶５００、１∶１０００、１∶２０００、１∶５０００、１∶１００００、１∶２５０００、１∶５００００、１∶１０００００、１∶２５００００、１∶５０００００、１∶１００００００国家基本比例尺地形图更新的原则、方法以及精度要求。本标准适用于国家基本比例尺地形图的更新。 标准号：GB/T 1426
GB/T14268-1993国家基本比例尺地形图修测规范
本标准规定了1∶5000、1∶10000、1∶25000、1∶50000、1∶100000五种国家基本比例尺地形图修测的原则、方案、方法以及精度要求。本标准适用于基本图修测作业。 标准号：GB/T
GB/T14267-1993短程光电测距仪
本标准规定了短程相位式光电测距仪的产品分类、技术要求、试验方法、检验规则，仪器的包装、标志、运输和贮存。本标准适用于测程在5km以内的相位式光电测距仪的设计、生产、
