GB/T14031-1992半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环电参数测试方法的基本原理。模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。

标准号：GB/T 14031-1992

标准名称：半导体集成电路模拟锁相环测试方法的基本原理

英文名称：General principles of measruing methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：1992-01-02

实施日期：1993-08-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

起草单位：上海件五厂

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家技术监督局