GB/T12843-1991半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

本标准规定了半导体集成电路微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理。本标准适用于器件电参数的测试。

标准号：GB/T 12843-1991

标准名称：半导体集成电路 微处理器及外围接口电路电参数测试方法的基本原理

英文名称：General principle of measuring methods of microprocessors and peripheral interface circuits parameters for semiconductor integrated circuits

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：1991-04-28

实施日期：1991-01-02

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

替代以下标准：作废;

起草单位：北京机械自动化所

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家技术监督局