KSDISO14706-2003表面化学分析.用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物

2026-02-07

标准号:KS D ISO 14706-2003

标准名称: 表面化学分析用全反射X射线荧光光谱法测定硅圆片表面主要污物

英文名称:Surface chemical analysis-Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence(TXRF) spectroscopy

标准类型:国外标准

标准状态:现行

发布日期:2003-12-29

实施日期:2003-12-29

中国标准分类号(CCS):G04

国际标准分类号(ICS):7104040

KSDISO14707-2003表面化学分析.辉光放电光发射光度测定法(GD-OES).使用说明
KSDISO14657-2006混凝土钢筋用镀锌钢
猜您喜欢......
返回顶部小火箭