JEDECJESD78A-2006IC锁定试验

2026-02-07

标准号:JEDEC JESD78A-2006

标准名称: IC锁定试验

英文名称:IC Latch-Up Test

标准类型:国外标准

标准状态:现行

中国标准分类号(CCS):L85

JEDECJESD7-A-198654/74HCXXXX和54/74HCTXXXX高速CMOS器件.勘误:描述1986年8月
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