JEDECJESD35-A-2001薄电介质的Wafer-Level测试程序
标准号：JEDEC JESD35-A-2001
标准名称： 薄电介质的Wafer-Level测试程序
英文名称：Procedure for the Wafer-Level Testing of Thin Dielectrics
标准类型：国外标准
标准状态：现行
中国标准分类号（CCS）：L86
国际标准分类号（ICS）：31080
JEDECJESD91A-2003为电子部件故障设备发展加速度模型的方法
标准号：JEDEC JESD91A-2003 标准名称： 为电子部件故障设备发展加速度模型的方法 英文名称：Method for Developing Acceleration Models for Electronic Component Failure Mec
JEDECJESD8-3-1993数字集成电路的GTL低水平高速度接口标准.勘误:1994年12月
标准号：JEDEC JESD8-3-1993 标准名称： 数字集成电路的GTL低水平高速度接口标准.勘误:1994年12月 英文名称：Gunning Transceiver Logic (GTL) Low-Level, High-Speed Interface
JEDECJESD82-22-2006FBDIMM诊断感官线路的使用仪器芯片数据单表
标准号：JEDEC JESD82-22-2006 标准名称： FBDIMM诊断感官线路的使用仪器芯片数据单表 英文名称：Instrumentation Chip Data Sheet for FBDIMM Diagnostic Senselines 标准类型：
JEDECJESD8-18-2006FBDIMM规程:1.5V上的高速差量PTP连接
标准号：JEDEC JESD8-18-2006 标准名称： FBDIMM规程:1.5V上的高速差量PTP连接 英文名称：FBDIMM Specification: High Speed Differential PTP Link at 1.5 V 标准类型：国外标准
JEDECJESD7-A-198654/74HCXXXX和54/74HCTXXXX高速CMOS器件.勘误:描述1986年8月
标准号：JEDEC JESD7-A-1986 标准名称： 54/74HCXXXX和54/74HCTXXXX高速CMOS器件.勘误:描述1986年8月 英文名称：54/74HCXXXX and 54/74HCTXXXX High Speed CMOS Devices, Descri
