JEDECJEP128-1996Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南

2026-02-07

标准号:JEDEC JEP128-1996

标准名称: Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南

英文名称:Guide for Standard Probe Pad Sizes and Layouts for Wafer-Level Electrical Testing

标准类型:国外标准

标准状态:现行

中国标准分类号(CCS):L86

国际标准分类号(ICS):31080

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