JEDECJEP128-1996Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南

标准号:JEDEC JEP128-1996
标准名称: Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南
英文名称:Guide for Standard Probe Pad Sizes and Layouts for Wafer-Level Electrical Testing
标准类型:国外标准
标准状态:现行
中国标准分类号(CCS):L86
国际标准分类号(ICS):31080

标准号:JEDEC JEP128-1996
标准名称: Wafer-Level电测的标准探针垫大小和布置指南
英文名称:Guide for Standard Probe Pad Sizes and Layouts for Wafer-Level Electrical Testing
标准类型:国外标准
标准状态:现行
中国标准分类号(CCS):L86
国际标准分类号(ICS):31080