JEDECJEP118-1993GaAsMMIC和FET寿命试验导则
标准号：JEDEC JEP118-1993
标准名称： GaAs MMIC和FET寿命试验导则
英文名称：Guidelines for GaAs MMIC and FET Life Testing
标准类型：国外标准
标准状态：现行
中国标准分类号（CCS）：L86
国际标准分类号（ICS）：31080
JEDECJEP69-B-1973场效应管用优先引脚外形
标准号：JEDEC JEP69-B-1973 标准名称： 场效应管用优先引脚外形 英文名称：Preferred Lead Configurations for Field-Effect Transistors 标准类型：国外标准 标准状态：现行 中
JEDECJEP179-2006组装的固态表面贴装元件的测试驱使鉴定和故障机理分析
标准号：JEDEC JEP179-2006 标准名称： 组装的固态表面贴装元件的测试驱使鉴定和故障机理分析 英文名称：Stress-Test-Driven Qualification of and Failure Mechanisms Associat
JEDECJEP150-2005组装的固态表面贴装元件的测试驱使鉴定和故障机理分析
标准号：JEDEC JEP150-2005 标准名称： 组装的固态表面贴装元件的测试驱使鉴定和故障机理分析 英文名称：Stress-Test-Driven Qualification of and Failure Mechanisms Associat
JEDECJEP145-2003在动力机组系统中评估引线电路载体容量的指南
标准号：JEDEC JEP145-2003 标准名称： 在动力机组系统中评估引线电路载体容量的指南 英文名称：Guideline for Assessing the Current-Carrying Capability of the Leads in a P
JEDECJEP155-2008用于人体带电模型/静电放电模型（HBM/MM）限制的电火花检测报告器（ESD）目标水平推荐规程
标准号：JEDEC JEP155-2008 标准名称： 用于人体带电模型/静电放电模型（HBM/MM）限制的电火花检测器（ESD）目标水平推荐规程 英文名称：Recommended ESD Target Levels for HBM/MM Qual
