DINVVDEV0126-18-4-2-2007太阳能硅片.第4-2部分:硅电气特性的测量程序.实验室测量法测定少数载流子寿命

标准号：DIN V VDE V 0126-18-4-2-2007

标准名称： 太阳能硅片第4-2部分:硅电气特性的测量程序实验室测量法测定少数载流子寿命

英文名称：Solar wafers - Part 4-2: Process for measuring the electrical characteristics of silicon - Minority carrier lifetime, Laboratory measuring method

标准类型：国外标准

标准状态：作废

发布日期：2007-06-01

实施日期：2007-06-01

中国标准分类号（CCS）：F12

国际标准分类号（ICS）：27160

替代以下标准：DIN EN 50513-2009