JB/T10034-2012光栅角位移测量系统

本标准规定了光栅角位移测量系统的术语和定义、基本参数及功能、要求、电气安全性能、环境适应性、试验方法、检验规则、标志与包装等。本标准适用于分辨力为01″、02″、05″、1″、2″、5″和10″，准确度等级为±025″级、±05″级、±1″级、±2″级、±5″级、±10″级和±20″级的光栅角位移测量系统

标准号：JB/T 10034-2012

标准名称：光栅角位移测量系统

英文名称：Grating angular displacement measuring system

标准类型：行业标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2012-05-24

实施日期：2012-11-01

中国标准分类号（CCS）：机械>>工艺装备>>J42量具与量仪

国际标准分类号（ICS）：计量学和测量、物理现象>>长度和角度测量>>1704030测量仪器仪表

替代以下标准：替代JB/T 10034-1999

起草单位：四川科奥达技术有限公司、中国科学院光电技术研究所、长春禹衡光学有限公司等

归口单位：全国量具量仪标委会

发布单位：工业和信息化部