SJ/T10167-1991电子设备密封结构试验方法

2025-06-28

标准号:SJ/T 10167-1991

标准名称:电子设备密封结构试验方法

英文名称:Test methods of densification structure for electronic equipments

标准类型:行业标准

标准性质:推荐性

标准状态:现行

发布日期:1991-04-02

实施日期:1991-07-01

中国标准分类号(CCS):电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L01技术管理

SJ/T10166-1991电子设备密封结构技术条件
SJ/T10168.1-1991真空开关管用金属异型制品钨铜合金
猜您喜欢......
返回顶部小火箭