X荧光镀层厚度测量仪的功能特点有哪些

MS-WORD?(使用宏支持自动制作测量报告书) 测量能谱与样品图像保存功能

新薄膜EP法

减少检量线制作的繁琐程度、实现了设定测量条件的简易化

无标样测量方法可进行zui多5层的膜厚测量

自动对焦功能和距离修正功能

凹凸落差的样品可通过薄膜EP法做成的相同测定条件进行测量

灵敏度提高

镀层测量时间比本公司原有机型缩短了1/2

生成报告功能

一键生成测量报告书

应用领域

黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测。

金属镀层的厚度测量,电镀液和镀层含量的测定。

用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

X荧光镀层厚度测量仪可进行广域样品观察

FT110A对测量平台（250mm*200mm）上放置的样品拍摄一张静态画面后，可在获取的广域观察图像上指定狭域的观察位置。由此，可大幅减少多数测量点位置的选取时间，以及在图像上难以寻找的特定点位置的选定时间。