膜厚仪的技术指标

E8膜厚仪应用领域:黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测。

金属镀层的厚度测量 电镀液和镀层含量的测定。

用于贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检测机构；电镀行业。

膜厚仪的技术指标

元素分析范围从硫(S)到铀（U）。

同时可以分析30种以上元素，五层镀层。

分析检出限可达2ppm，薄可测试0.005μm。

分析含量一般为ppm到99.9% 。

镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）

任意多个可选择的分析和识别模型。

相互独立的基体效应校正模型。

多变量非线性回收程序

多次测量重复性可达0.1%

长期工作稳定性可达0.1%

度适应范围为15℃至30℃。

电源: 交流220V±5V 建议配置交流净化稳压电源。

外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

标准配置

开放式样品腔。

精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。

双激光定位装置。

铅玻璃屏蔽罩。

Si-PiN探测器。

信号检测电子电路。

高低压电源。

X光管。

高度传感器

保护传感器

计算机及喷墨打印机