漆膜测厚仪功能是怎样的呢

m（10um以下为01um）。

探头连接方式：一体化。

示值误差：一点校准（um）±[3%H 1]。

两点校准（um）： ±[（1～3）%H 1]。

测量条件：zui小曲率半径（mm） 凸 15 凹9。

基体zui小面积的直径（mm）：ф7。

zui小临界厚度（mm）：05。

温湿度：0~40℃，20%RH～90%RH。

统计功能：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、测试次数（NO．）、

标准偏差（S．DEV）。

工作方式：直接方式（DIRECT）和成组方式（Appl）。

测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）上下限设置。

存储能力：15 个测量值。

打印/连接计算机：可选配打印机/不能连接电脑。

关机方式：自动。

电源：二节36V镍镉电池。

外形尺寸：150×555×23mm。

重量：150g。

基本配置：主机。

标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um）。

铁基体。

充电器。

可选附件。

TA230打印机。

基本原理：

本仪器采用了磁性测厚法，可无损伤地测量磁性金属基体上的非磁性覆盖层的厚度（如钢、铁、非奥氏体不锈钢基体上的铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆镀层）。 基本工作原理是：当测头与覆盖层接触时。测头和磁性金属基体构成一闭合磁路，由于非磁性覆盖层的存在，使磁路磁阻变化，通过测量其变化可计算覆层的厚度。

漆膜测厚仪是一种超小型测量仪，它能快速、无损伤、精密地进行磁性金属基体上的非磁性覆盖层厚度的测量。

可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于该仪器体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。

本仪器符合以下标准： GB/T 4956─1985 磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 889─95 《磁阻法测厚仪》。