JJF1760-2019硅单晶电阻率标准样片校准规范

本规范适用于电阻率在0003 Ω·cm～1 000 Ω·cm之间的硅单晶电阻率标准样片的校准。

标准号：JJF 1760-2019

标准名称：硅单晶电阻率标准样片校准规范

英文名称：Calibration Specification for Standard Slices of Single Crystal Silicon Resistivity

标准类型：国家标准

标准状态：现行

发布日期：2019-09-27

实施日期：2020-03-27

替代以下标准：替代JJG 48-2004

起草单位：中国计量科学研究院

归口单位：全国无线电计量技术委员会

发布单位：国家市场监督管理总局