JJF1682-2017光栅式测微仪校准规范

本规范适用于01 μm级行程为0～10 mm、02 μm级行程为0～25 mm、05 μm级行程为0～50 mm、1 μm级～10 μm级行程为0～100 mm的光栅式测微仪校准。

标准号：JJF 1682-2017

标准名称：光栅式测微仪校准规范

英文名称：Calibration Specification for Grating Micrometers

标准类型：国家标准

标准状态：现行

发布日期：2017-11-20

实施日期：2018-05-20

替代以下标准：替代JJG 989-2004

起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院

归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫