JJF1254-2010数显测高仪校准规范

本规范适用于分辨力为01μm、02μm、05μm和1μm，量程为0mm至1000mm的数显测高仪的校准。

标准号：JJF 1254-2010

标准名称：数显测高仪校准规范

英文名称：Calibration Specification for Height Measuring Instrument with Digital Display

标准类型：国家标准

标准状态：现行

发布日期：2010-05-11

实施日期：2010-11-11

起草单位：中国科学院光电技术研究所、中国测试技术研究院

归口单位：全国几何量工程参量计量技术委员会

发布单位：国家质量监督检验检疫