GB6649-1986半导体集成电路外壳总规范

本规范适用于半导体集成电路外壳（以下简称外壳），它规定了对外壳进行质量评定时的总程序，并给出了下述测试和试验的总原则：电特性测试；气候和机械试验。对各类外壳，其详细规范和本规定构成对外壳质量的完整要求。

标准号：GB 6649-1986

标准名称：半导体集成电路外壳总规范

英文名称：Generic specification of packages for semiconductor integrated circuits

标准类型：国家标准

标准性质：强制性

标准状态：作废

发布日期：1986-07-31

实施日期：1987-08-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

替代以下标准：作废;

起草单位：上海无线电十厂

发布单位：国家标准局