GB5594.4-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法

本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。

标准号：GB 55944-1985

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 介质损耗角正切值的测试方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for dielectric loss angle tangent value

标准类型：国家标准

标准性质：强制性

标准状态：作废

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

中国标准分类号（CCS）：>>>>L32

国际标准分类号（ICS）：31030

替代以下标准：被GB/T 55944-2015代替

起草单位：天津大学

归口单位：中华人民共和国电子工业部

发布单位：国家标准局