GB5594.2-1985电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法杨氏弹性模量泊松比测试方法

本标准适用于室温下电子器件结构陶瓷材料的杨氏弹切变模量和泊松比的测量。

标准号：GB 55942-1985

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components; Test method for Young

标准类型：国家标准

标准性质：强制性

标准状态：现行

发布日期：1985-11-27

实施日期：1986-12-01

中国标准分类号（CCS）：>>>>L32

国际标准分类号（ICS）：31030

起草单位：天津大学

归口单位：信息产业部（电子）

发布单位：国家标准局