GB3444-1982半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理

标准号：GB 3444-1982

标准名称：半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理

标准类型：国家标准

标准性质：强制性

标准状态：作废

实施日期：1983-10-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

替代以下标准：调整为SJ/T 10740-1996