GB11114-1989人造石英晶体位错X射线形貌检测报告方法

本标准规定了观测人造石英晶体的位错、划痕、层错、孪晶、沉淀物和生长条纹等缺陷和估算其位错密度的X射线衍射形貌方法。本标准适用于人造石英晶体及天然石英晶体位错密度等缺陷的检测。

标准号：GB 11114-1989

标准名称：人造石英晶体位错X射线形貌检测方法

英文名称：Method for detecting dislocations of synthetic quartz crystal using X-ray topographic technique

标准类型：国家标准

标准性质：强制性

标准状态：现行

发布日期：1989-03-22

实施日期：1990-03-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31020 电子元件综合 31电子学

替代以下标准：废止公告：国家标准公告2017年第31号

起草单位：中国科学院物理研究所和机械电子工业部电子标准化研究所

归口单位：全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会

发布单位：机械电子工业部