GB/T8760-2020砷化镓单晶位错密度的测试方法

本标准规定了砷化镓单晶位错密度的测试方法。本标准适用于、面砷化镓单晶位错密度的测试，测试范围为0 cm-2～100 000 cm-2 。

标准号：GB/T 8760-2020

标准名称：砷化镓单晶位错密度的测试方法

英文名称：Test method for dislocation density of monocrystal gallium arsenide

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2020-09-29

实施日期：2021-08-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法

国际标准分类号（ICS）：冶金>>77040金属材料试验

替代以下标准：替代GB/T 8760-2006

起草单位：有研光电新材料有限责任公司、云南临沧鑫圆锗业股份有限公司、国合通用测试评价认证股份公司、中国电子科技集团第四十六研究所、广东先导稀材股份有限公司、雅波拓(福建)新材料有限公司

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)、全

发布单位：国家市场监督管理总局