GB/T8759-1988化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法

标准号：GB/T 8759-1988

标准名称：化合物半导体单晶晶向X射线衍射测量方法

英文名称：Compound semiconductive single crystals--Determination of crzystallographic orientation--X-ray diffraction method

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

实施日期：1989-07-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法

替代以下标准：被GB/T 1555-1997代替