GB/T5594.8-2015电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法第8部分：显微结构的测定方法

GB/T5594的本部分规定了氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定方法。本部分适用于氧化铝瓷、氧化铍瓷、滑石瓷和镁橄榄石瓷等电子元器件结构陶瓷显微结构的测定。本部分只涉及光学显微镜的测定内容和测定方法。

标准号：GB/T 55948-2015

标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 第8部分：显微结构的测定方法

英文名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components and device—Part 8:Test method for microstructure

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2015-05-15

实施日期：2016-01-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料

国际标准分类号（ICS）：31-030

替代以下标准：替代GB/T 55948-1985

起草单位：中国电子科技集团公司第十二研究所、中国电子技术标准化研究院、江苏常熟银洋陶瓷器件有限公司

归口单位：中国电子技术标准化研究院

发布单位：国家质量监督检验检疫