GB/T4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

本标准规定了半导体集成电路电压调整器电特性测试方法的基本原理。本标准适用于半导体集成电路电压调整器电特性的测试，不适用于双端（单端口）器件。

标准号：GB/T 4377-1996

标准名称：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理

英文名称：Semiconductor integrated circuits-General principles of measuring methods of voltage regulator

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：作废

发布日期：1996-07-09

实施日期：1997-01-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路

国际标准分类号（ICS）：电子学>>31200集成电路、微电子学

替代以下标准：GB 4377-1984;被GB/T 4377-2018代替

起草单位：全国集成电路标委会模拟分会

归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会

发布单位：国家技术监督局