GB/T36655-2018电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法XRD法

本标准规定了电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的XRD测试方法。 本标准适用于电子封装用球形二氧化硅微粉中检测α态晶体二氧化硅含量，其它无定形二氧化硅含量的检测也可参照本标准执行。α态晶体二氧化硅含量测试范围05%以下半定量分析，05%-5%定量分析。

标准号：GB/T 36655-2018

标准名称：电子封装用球形二氧化硅微粉中α态晶体二氧化硅含量的测试方法 XRD法

英文名称：Test method for alpha crystalline silicon dioxide content of spherical silica powder for electronic packaging—XRD method

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2018-09-17

实施日期：2019-01-01

中国标准分类号（CCS）：电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料

国际标准分类号（ICS）：31030

起草单位：国家硅材料深加工产品质量监督检验中心、江苏联瑞新材料股份有限公司、汉高华威电子有限公司

归口单位：全国半导体设备和材料标准化技术委员会(SAC/TC 203)

发布单位：国家市场监督管理总局