GB/T14849.5-2014工业硅化学分析方法第5部分：杂质元素含量的测定X射线荧光光谱法

GB/T14849的本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定方法。本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、锰、镍、钛、铜、磷、镁、铬、钒、钴含量的测定,测定范围见表1。表 1元素 质量分数/% 元素 质量分数/%铁 0020~1500 铜 0001~0050铝 0050~1000 磷 0001~0050钙 0010~1000 镁 0001~0050锰 00050~01000 铬 0001~0050镍 00010~01000 钒 00005~00500钛 00050~01000 钴 00005~00500

标准号：GB/T 148495-2014

标准名称：工业硅化学分析方法 第5部分：杂质元素含量的测定 X射线荧光光谱法

英文名称：Methods for chemical analysis of silicon metal—Part 5:Determination of impurity contents—X-ray fluorescence method

标准类型：国家标准

标准性质：推荐性

标准状态：现行

发布日期：2014-12-05

实施日期：2015-05-01

中国标准分类号（CCS）：冶金>>金属化学分析方法>>H12轻金属及其合金分析方法

国际标准分类号（ICS）：冶金>>有色金属>>7712010铝和铝合金

替代以下标准：替代GB/T 148495-2010

起草单位：昆明冶金研究院、中国铝业股份有限公司山东分公司、云南永昌硅业股份有限公司

归口单位：全国有色金属标准化技术委员会(SAC/TC243)

发布单位：国家质量监督检验检疫