GB/T11685-1989半导体X射线能谱仪的测试方法
标准号：GB/T 11685-1989
标准名称：半导体X射线能谱仪的测试方法
英文名称：Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
标准状态：作废
发布日期：1989-10-14
实施日期：1990-05-01
中国标准分类号（CCS）：能源、核技术>>核仪器与核探测器>>F80核仪器与核探测器综合
国际标准分类号（ICS）：计量学和测量、物理现象>>17240辐射测量
替代以下标准：被GB/T 11685-2003代替
GB/T11686-2002小艇厕所废水集存系统
本标准等同采用ISO8099:2000《小艇厕所废水集存系统》（英文版）。本标准规定了污水临时集存（以便接着处理）系统的设计、制造和安装的要求。本标准适用于艇体长度不大于24m的小艇
GB/T11685-2003半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
本标准规定了半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要特性的测量方法。本标准适用于半导体x射线探测器系统和半导体x射线能谱仪主要性能的测量。 标准号：GB/T 11685-20
GB/T11685-1989半导体X射线能谱仪的测试方法
标准号：GB/T 11685-1989 标准名称：半导体X射线能谱仪的测试方法 英文名称：Test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers 标准类型：国家标准 标准性质：推荐性
GB/T11684-2003核仪器电磁环境条件与试验方法
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GB/T11684-1989堆用核仪器电磁干扰特性和检验方法
标准号：GB/T 11684-1989 标准名称：堆用核仪器电磁干扰特性和检验方法 英文名称：Characterisics and test methods of electromagnetic interferences in nucleonic instrument
