KSDISO16700-2013微电子束分析.扫描电子显微镜.校准图像放大指南

标准号：KS D ISO 16700-2013

标准名称： 微电子束分析扫描电子显微镜校准图像放大指南

英文名称：Microbeam analysis－Scanning electron microscopy－Guidelines for calibrating image magnification

标准类型：国外标准

标准状态：现行

发布日期：2013-06-05

实施日期：2013-06-05

中国标准分类号（CCS）：N32

国际标准分类号（ICS）：37020