KSDISO15632-2012微光束分析.带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范

2026-02-07

标准号:KS D ISO 15632-2012

标准名称: 微光束分析带半导体探测器的能量发散X射线分光仪的仪器规范

英文名称:Microbeam analysis-Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors

标准类型:国外标准

标准状态:现行

发布日期:2012-12-07

实施日期:2012-12-07

中国标准分类号(CCS):N50

国际标准分类号(ICS):7104099

KSDISO15724-2004金属和其他无机涂层.钢中可扩散氢的电化学测量.Barnacle电极法
返回列表
猜您喜欢......
返回顶部小火箭