KSD0257-2002光电导衰减测量法测定硅单晶体少数载流子寿命的方法

标准号：KSD 0257-2002

标准名称： 光电导衰减测量法测定硅单晶体少数载流子寿命的方法

英文名称：Measuring of minority - carrier lifetime in silicon single crystal by photoconductive decay method

标准类型：国外标准

标准状态：现行

发布日期：2002-05-29

实施日期：2002-05-29

中国标准分类号（CCS）：H81

国际标准分类号（ICS）：29045