KSD0078-2008硅晶体中混杂物浓度测定方法.光致发光分析测定法

标准号：KSD 0078-2008

标准名称： 硅晶体中混杂物浓度测定方法光致发光分析测定法

英文名称：Test method for determination of impurity concentrations in silicon crystal by photoluminescence spectroscopy

标准类型：国外标准

标准状态：现行

发布日期：2008-06-30

实施日期：2008-06-30

中国标准分类号（CCS）：H82

国际标准分类号（ICS）：2904030