IEC60759AMD1-1991半导体X射线能谱仪的标准试验程序修改1

标准号：IEC 60759 AMD 1-1991

标准名称： 半导体X射线能谱仪的标准试验程序 修改1

英文名称：Standard test procedures for semiconductor X-ray energy spectrometers; amendment 1

标准类型：国外标准

标准状态：现行

中国标准分类号（CCS）：N54

国际标准分类号（ICS）：17240