JB/T5482-2004X射线晶体定向仪技术条件

2025-06-28

本标准规定了用于单晶定向和测量用的X射线晶体定向仪的要求,试验方法、检验规则、标志、包装、运输、贮存。

标准号:JB/T 5482-2004

标准名称:X射线晶体定向仪 技术条件

英文名称:The specification for X-ray Crystal Orientation apparatus

标准类型:行业标准

标准性质:推荐性

标准状态:作废

发布日期:2004-06-17

实施日期:2004-11-01

中国标准分类号(CCS):仪器、仪表>>光学仪器>>N33电子光学与其他物理光学仪器

国际标准分类号(ICS):计量学和测量、物理现象>>光学和光学测量>>1718099有关光学和光学测量的其他标准

替代以下标准:JB/T 5482-1991;被JB/T 5482-2011代替

起草单位:丹东市东方晶体仪器有限公司、辽宁仪表研究所等

归口单位:全国试验机标委会、辽宁仪表研究所

发布单位:国家发展和改革委员会

JB/T5482-2011X射线晶体定向仪
JB/T54825-1999铸造机械产品质量通用分等
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